薄膜厚度测量拉姆达Lambda-Vision光谱仪Lambda-Vision拉姆达专注于光学测量领域的企业，其核心业务围绕光谱技术展开，致力于提供低成本、高性能的光学测量解决方案。Lambda-Vision拉姆达主要生产显微拉曼光谱仪（MicroRAM-300/500M°）、光纤光谱仪（如SA-100系列）等光学测量设备，产品广泛应用于电路生产、材料分析等领域。

薄膜厚度测量拉姆达Lambda-Vision光谱仪

Lambda-Vision拉姆达专注于光学测量领域的企业，其核心业务围绕光谱技术展开，致力于提供低成本、高性能的光学测量解决方案。

核心业务

Lambda-Vision拉姆达主要生产显微拉曼光谱仪（如MicroRAM-300/500M°）、光纤光谱仪（如SA-100系列）等光学测量设备，产品广泛应用于电路生产、材料分析等领域。

其设备特点包括：

·低成本高性能：通过内部整合电路、软件、光学设计等环节，实现高性价比;

·模块化设计：支持USB相机观察、XY载物台映射、Z焦点深度映射等扩展功能;

·技术特色：采用Andor高灵敏度探测器，可选倾斜光装置以减少薄膜样品噪声干扰。

企业文化

Lambda-Vision秉承“以低价提供最佳性能"的理念，注重环境可持续发展，通过优化供应链管理降低生产成本，同时公开环境方针并加强内部监督。

最新动态

2025年7月，Lambda-Vision推出LV-MCD°显微CD光谱测量系统，进一步拓展了其在材料分析领域的应用。

薄膜厚度测量拉姆达Lambda-Vision光谱仪

通过高精度薄膜厚度测量加速研发，无需接触

测量软件

ソフトウエア

学術開連

该软件主要用于学术目的。

购买我们的光谱产品后，学术和研究机构可免费使用以下所有产品。

SpectraView S

SA-100 标配的软件。

●多光谱同时显示

●透射/反射测量，适合

测量 SpectraView 2000

●可结合W光谱仪和单光谱仪作•DG535带内控CCD的同步控制
●3D时间测量/3D显示

●支持

LaserView

●专用激光波长监测器
●高精度显示中心波长。半宽输出中日楼

光谱MAP

●多通道探测器测绘后，MAP显示任意波长

●与阴极发光（CL）和阴极发光（光向发光）兼容电子

PLE 实验室

●在多通道探测器接收光（激发波长-荧光波长）

后创建图，同时扫描激发源光谱仪。

·可见光~近红外至

1650nm辐射实验室

●光谱发射光谱测量

●设各可在本公司校准

●亮度、照度、亮度及全光通量显示可显示

●可显示

多种比色值 色彩实验室

●透射/反射率比色测量

●多种比色值显示

●色差显示

·工业领域比色软件标准

TF实验室

●薄膜厚度测量至10nm~1000μm

FFT/曲线拟合法

●预先输入各种材料的光学常数

●薄膜厚度可随时间测量

延迟实验室

●各种材料的双折射（延迟）测量
●可通过透射光谱和旋转分析仪进行测量。

●我们有旋转标本台和显微镜旋转分析仪。

等离子体观察器

●测量等离子体在等离子体腔内沉积和蚀刻过程中等

离子体光的时间变化。

●设置各种强度变化的端点信号输出

Igor /LabView 测量

●光谱测量可使用分析软件lgor进行。

●光谱测量可在LabView中进行。

Lambda-Vision拉姆达测量软件

作为一款高性能光纤光谱仪，它能够在200纳米到2500纳米的广泛波长范围内进行精确的光谱测量。通过USB连接PC控制作简便，并优化用于透射和反射率测量。它以低成本提供高稳定性和灵敏度，适用于从研发到生产的广泛应用。凭借内置快内功能和定制选项，它是一款多功能系统，能够满足各种测量需求。