无需磨漆精准测厚：JFE川铁TI-121T管道涂层直测腐蚀检测技术解析

JFE川铁（JFEAdvantech）超音波厚度计（涂膜下测量）TI-121TTI-120T的高精度型号。涂膜下测量等小型机壳中搭载了多种功能。配备大容量数据内存的测厚仪。特点①涂膜下的厚度测量：只需将探触子从涂装表面接触，即可测量母材的厚度。②数据存储器功能：最大可以保存10,000点的数据，能够轻松进行数据管理。（也可以进行分组）③电脑数据通信功能：连接USB电缆即可将测量数据传输到电脑。④探触子交换可能：通过更换探针，可以进行广泛范围的测量。⑤差分表示、上下限报警功能：...

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MORITEX茉丽特线扫成像系统｜PCB、FPD面板、光学玻璃高精度工业检测应用

MORITEX茉丽特线扫成像系统｜PCB、FPD面板、光学玻璃高精度工业检测应用在电子精密制造领域，PCB线路板、FPD平板显示、光学玻璃基材的制程缺陷具备尺寸微小、分布宽泛、类型多样的特征，常规面阵相机难以满足大幅面、连续性、微米级的全域质检需求。MORITEX茉丽特线扫成像系统，依托大像面低畸变线扫镜头、高同步成像光学设计，搭配高精度线扫相机，可实现高速连续扫描、全域高清成像，稳定适配PCB、CF彩色滤光片、BM黑矩阵、LCD液晶面板、光学玻璃等核心电子材质的在线检测，是...

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MORITEX茉丽特SWIR短波红外棱镜相机/工业隐性缺陷检测方案

MORITEX茉丽特SWIR短波红外棱镜相机---分光式多光谱成像工业隐性缺陷检测方案在工业视觉检测场景中，常规可见光相机仅能捕捉表面明暗与色彩差异，对于材质内部瑕疵、透明覆膜缺陷、微弱杂质、水分残留、涂层分层等隐性缺陷无法有效识别。短波红外（SWIR）成像凭借特殊光谱穿透特性，成为透光材质、复合薄膜、精密涂层、锂电材料无损检测的核心技术。MORITEX茉丽特SWIR棱镜相机依托自研分光棱镜光学架构，融合多光谱分光技术与短波红外感光能力，实现可见光+短波红外多通道同步成像，可...

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MORITEX茉丽特 3CMOS棱镜相机 分光式三通道工业彩色成像检测相机

MORITEX茉丽特3CMOS棱镜相机｜物理分光真彩色成像工业色差精密检测方案在工业视觉精密质检中，微弱色差识别、色彩一致性管控与量化色彩检测，一直是行业核心技术难点。传统单CMOS彩色工业相机依托拜耳阵列软件插值还原色彩，极易出现色彩偏移、边缘色晕、色阶丢失、弱色差无法分辨等问题，难以满足PCB阻焊、显示面板、精密印刷、新能源锂电等高精色彩检测需求。MORITEX茉丽特3CMOS棱镜相机采用原厂一体化分光棱镜光学设计，实现RGB三通道物理分光、三芯片独立原生采集成像，摒弃软...

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高精度尺寸测量镜头 MORITEX FF系列 茉丽特低畸变工业检测专用

MORITEX茉丽特FF系列线扫镜头｜超低畸变高精度工业精密尺寸测量检测镜头在工业视觉检测与精密尺寸测量场景中，16K高线数线扫相机已成为行业主流配置，而成像镜头的精度、畸变控制、像面均匀性，直接决定整套视觉检测方案的效果。普通工业镜头普遍存在畸变大、边缘成像模糊、照度不均、适配性差等问题，无法满足微米级精密检测、卷材连续扫描、高精度尺寸分拣的严苛需求。MORITEX茉丽特FF系列线扫镜头作为日本茉丽特主打高精度无穷共轭工业镜头，凭借超低畸变、大靶面高解析、全场景适配的核心优...

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