拉姆达Lambda-Vision非接触光谱薄膜膜厚仪Lambda-Vision拉姆达专注于光学测量领域的企业，其核心业务围绕光谱技术展开，致力于提供低成本、高性能的光学测量解决方案。Lambda-Vision拉姆达主要生产显微拉曼光谱仪（MicroRAM-300/500M°）、光纤光谱仪（如SA-100系列）等光学测量设备，产品广泛应用于电路生产、材料分析等领域。

拉姆达Lambda-Vision非接触光谱薄膜膜厚仪

Lambda-Vision拉姆达专注于光学测量领域的企业，其核心业务围绕光谱技术展开，致力于提供低成本、高性能的光学测量解决方案。

核心业务

Lambda-Vision拉姆达主要生产显微拉曼光谱仪（如MicroRAM-300/500M°）、光纤光谱仪（如SA-100系列）等光学测量设备，产品广泛应用于电路生产、材料分析等领域。

其设备特点包括：

·低成本高性能：通过内部整合电路、软件、光学设计等环节，实现高性价比;

·模块化设计：支持USB相机观察、XY载物台映射、Z焦点深度映射等扩展功能;

·技术特色：采用Andor高灵敏度探测器，可选倾斜光装置以减少薄膜样品噪声干扰。

企业文化

Lambda-Vision秉承“以低价提供优良性能"的理念，注重环境可持续发展，通过优化供应链管理降低生产成本，同时公开环境方针并加强内部监督。

最新动态

2025年7月，Lambda-Vision推出LV-MCD°显微CD光谱测量系统，进一步拓展了其在材料分析领域的应用。

拉姆达Lambda-Vision非接触光谱薄膜膜厚仪

通过高精度薄膜厚度测量加速研发，

无需接触

LRMS

分光反射率計测

它是工业领域的光谱反射率测量装置。

透镜表面和滤镜表面涂覆了多种多层薄膜涂层。测量这些透镜和滤镜的

光谱反射率是

评估光学性能的必要测试。

正确的反射率使得分析基材和涂层薄膜的光学常数成为可能。

请比较该性能和价格！

真の分光反射率を確実に計測します！

它能准确测量360nm~1050nm的光谱反射率。

·反射率测量（曲面、平面）

·玻璃基底折射率（波长色散）

·涂层胶片折射率（波长色散）

· 阿贝数（(Vd, nF,nC,nd)

·色度坐标（彩色观测）

·薄膜厚度测量（最多三层）

它具有可靠测量镜头顶点的机制！

它不能测量薄透镜或基底玻璃的背面！

这是一个倾斜级，用于测量透射率测量单元和透镜的周边。

特点

·薄玻璃基板可测量无背反射影响（0.3毫米或以下）

·配各高精度垂直反射测量专用机构。

·标准易用于电视摄像机观案。（可选配视觉观察镜头筒）

·虽然成本低底，但配各自动对焦，数据无单独误差。

·工作距离为13毫米的物镜可用于处理各种形状的样品。

·电源为100V~240V自动切换系统。

·计算机可安装在各国作系统中，支持用户准备。

选项

。透射測量（φ2毫米或以下）

△90度反射测量

。偏振测量（透射/反射）

－镜头边缘测量适配器<B14 3>－波长 250nm~400nm(紫外测量）

△波长1000nm ~1600nm(近红外外部测量）

Lambda-Vision拉姆达LRMS

作为一种非接触式光谱薄膜厚度测量装置，它能够高精度且高速地测量薄膜的厚度。无损测量可在短时间内实现质量控制，且不会损坏

样品。它能够处理从研发到生产线在线检测的广泛应用，并能稳定获得高精度薄膜厚度数据。紧凑的设计便于安装，专用软件确保作性

和测量精度。凭借其高可靠性和作性，预计将应用于从研发到生产基地的广泛领域。