OTSUKA/日本大塚电子荧光免疫色素扫描仪OTSUKA大塚电子光光谱仪‌：拥有高感度分光光谱仪、紫外/可见/近红外光分光光谱仪等多款产品，波长范围覆盖220nm-1600nm。‌膜厚测量设备‌：包括显微分光膜厚仪、反射式膜厚量测仪、椭圆偏光膜厚量测仪等，支持非接触、非破坏式测量，可精准分析多层薄膜厚度、光学常数等参数，适用于半导体、FPD、光学材料等领域的检测。

OTSUKA大塚电子株式会社红外光谱分析仪OTSUKA大塚电子光光谱仪‌：拥有高感度分光光谱仪、紫外/可见/近红外光分光光谱仪等多款产品，波长范围覆盖220nm-1600nm。‌膜厚测量设备‌：包括显微分光膜厚仪、反射式膜厚量测仪、椭圆偏光膜厚量测仪等，支持非接触、非破坏式测量，可精准分析多层薄膜厚度、光学常数等参数，适用于半导体、FPD、光学材料等领域的检测。

OTSUKA/日本大塚电子化学自动分析仪OTSUKA大塚电子光光谱仪‌：拥有高感度分光光谱仪、紫外/可见/近红外光分光光谱仪等多款产品，波长范围覆盖220nm-1600nm。‌膜厚测量设备‌：包括显微分光膜厚仪、反射式膜厚量测仪、椭圆偏光膜厚量测仪等，支持非接触、非破坏式测量，可精准分析多层薄膜厚度、光学常数等参数，适用于半导体、FPD、光学材料等领域的检测。

OTSUKA测厚仪/日本大塚粒径分子量测量系统 OTSUKA大塚电子光光谱仪‌：拥有高感度分光光谱仪、紫外/可见/近红外光分光光谱仪等多款产品，波长范围覆盖220nm-1600nm。‌膜厚测量设备‌：包括显微分光膜厚仪、反射式膜厚量测仪、椭圆偏光膜厚量测仪等，支持非接触、非破坏式测量，可精准分析多层薄膜厚度、光学常数等参数，适用于半导体、FPD、光学材料等领域的检测。