Lambda-Vision拉姆达光谱薄膜厚度测量仪 Lambda-Vision拉姆达专注于光学测量领域的企业，其核心业务围绕光谱技术展开，致力于提供低成本、高性能的光学测量解决方案。Lambda-Vision拉姆达主要生产显微拉曼光谱仪（MicroRAM-300/500M°）、光纤光谱仪（如SA-100系列）等光学测量设备，产品广泛应用于电路生产、材料分析等领域。

Lambda-Vision拉姆达光谱薄膜厚度测量仪 
Lambda-Vision拉姆达专注于光学测量领域的企业，其核心业务围绕光谱技术展开，致力于提供低成本、高性能的光学测量解决方案。

核心业务

Lambda-Vision拉姆达主要生产显微拉曼光谱仪（如MicroRAM-300/500M°）、光纤光谱仪（如SA-100系列）等光学测量设备，产品广泛应用于电路生产、材料分析等领域。

其设备特点包括：

·低成本高性能：通过内部整合电路、软件、光学设计等环节，实现高性价比;

·模块化设计：支持USB相机观察、XY载物台映射、Z焦点深度映射等扩展功能;

·技术特色：采用Andor高灵敏度探测器，可选倾斜光装置以减少薄膜样品噪声干扰。

企业文化

Lambda-Vision秉承“以低价提供最佳性能"的理念，注重环境可持续发展，通过优化供应链管理降低生产成本，同时公开环境方针并加强内部监督。

最新动态

2025年7月，Lambda-Vision推出LV-MCD°显微CD光谱测量系统，进一步拓展了其在材料分析领域的应用。

Lambda-Vision拉姆达光谱薄膜厚度测量仪 

生产线实时监控的光学监测器

光谱薄膜厚度测量TFW-100（1)|(2）|(3）

它是一种低成本的光谱薄膜厚度测量仪器，应用于工业领域。

由于其非接触式、无损性，能够在短时间内轻松测量，且不会损坏样品。

它广泛应用于胶片厚度测量、研发和在线质量控制。

我们以低成本实现了高精度和高稳定性。

如果您正在考虑光谱膜厚度计，请随时联系我们。

<功能>

支持非接触式、无损膜厚度测量。

·厚度可测量10nm~1000μm，最多可测量三层薄膜厚度。

·不仅可以测量薄膜厚度，还可测量光学倍增器n，K)。

（最多3项参数）

·支持微斑。

·彩色滤镜颜料薄膜厚度也可测量。

薄膜厚度测量的应用

（1）与晶圆输送机结合的自动测量

(2）使用带有XYZ级的样品测量表进行测量

TFW系列

作为一种非接触式光谱薄膜厚度测量装置，它能够高精度且高速地测量薄膜的厚度。无损测量可在短时间内实现质量控制，且不会损坏

样品。它能够处理从研发到生产线在线检测的广泛应用，并能稳定获得高精度薄膜厚度数据。紧凑的设计便于安装，专用软件确保作性

和测量精度。凭借其高可靠性和作性，预计将应用于从研发到生产基地的广泛领域。