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产品型号:缺陷检测
更新时间:2026-01-04
厂商性质:经销商
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爱美克EMIC株式会社图像处理磁粒子探测器
日本EMIC爱美克是日本一家专注于磁性测量设备的公司,产品线覆盖磁通计、高斯计、磁粉探伤机等专业仪器,广泛应用于工业检测和科研领域。EMIC爱美克株式会社致力于通过高品质试验装置和服务,推动电器、汽车、航空等产业的技术发展。
磁通计
FM-2000多功能磁通计:支持无损探伤,适用于工业测量。
FMI-2000R磁通计:分辨率1,测量范围2.000mWb至2000mWb,精度±1%。
高斯计
GM-6001单轴高斯计探头:分辨率±40,000,支持DC/AC测量,适用于永磁元件产线集成。
振动试验机
512系列小型振动试验机:频率范围2-20kHz,大负载2kg。
裂缝深度计
CDM-4104台式裂缝深度计:采用直流电位法测量,分辨率10mm。
磁粉探伤设备
FY-8100工业用油性透明喷涂荧光磁粉:用于磁粉探伤。
简易磁粉浓度计MPS-50T:测试范围0.5~2,适用于化学实验。
9514系列小型振动试验设备:大负载8kg,适用于模态分析。

爱美克EMIC株式会社图像处理磁粒子探测器
图像处理磁粒子探测器
数字数据处理让技术如此贴近人眼。
型号:图像处理自动磁粒子缺陷检测器
特色
1.磁化法是一种多交替磁化方法,可以在一次磁化作中检测到所有方向的缺陷。
2.根据测试物体的形状,磁化方法和传输机制将分别对应。
3.通过将磁性颗粒浓度控制装置集成系统,使操作员免去控制和补充
磁性颗粒浓度等繁琐任务。
4. 配备高灵光度CCD相机,结合新图像处理软件,
实现高速实时检测。


■磁粒子探测恒流单元
可以集成到现有的磁化电源中
可以集成到磁性粒子探测器中
特色
1.通过采用软后动电路来抑制火花
2.当前设置为100内存
3.支持直流、交流、磁化和去磁输出
4.直流输出极性显示(NS显示)
5.配备NS平衡函数以减少外部磁场的影响
6.数字简易设置
*所集成的设备列入P17(飞机零件磁性粒子探测器)