EMIC日本爱美克磁粉探傷 JIS-A型标准试验片日本EMIC爱美克是日本一家专注于磁性测量设备的公司，产品线覆盖磁通计、高斯计、磁粉探伤机等专业仪器，广泛应用于工业检测和科研领域。EMIC爱美克株式会社致力于通过高品质试验装置和服务，推动电器、汽车、航空等产业的技术发展。

EMIC日本爱美克磁粉探傷 JIS-A型标准试验片

日本EMIC爱美克是日本一家专注于磁性测量设备的公司，产品线覆盖磁通计、高斯计、磁粉探伤机等专业仪器，广泛应用于工业检测和科研领域。EMIC爱美克株式会社致力于通过高品质试验装置和服务，推动电器、汽车、航空等产业的技术发展。

磁通计‌

‌FM-2000多功能磁通计‌：支持无损探伤，适用于工业测量。

‌FMI-2000R磁通计‌：分辨率1，测量范围2.000mWb至2000mWb，精度±1%。

‌高斯计‌

‌GM-6001单轴高斯计探头‌：分辨率±40,000，支持DC/AC测量，适用于永磁元件产线集成。

‌振动试验机‌

‌512系列小型振动试验机‌：频率范围2-20kHz，大负载2kg。

裂缝深度计‌

‌CDM-4104台式裂缝深度计‌：采用直流电位法测量，分辨率10mm。

磁粉探伤设备‌

‌FY-8100工业用油性透明喷涂荧光磁粉‌：用于磁粉探伤。

‌简易磁粉浓度计MPS-50T‌：测试范围0.5～2，适用于化学实验。

‌9514系列小型振动试验设备‌：大负载8kg，适用于模态分析。

EMIC日本爱美克磁粉探傷 JIS-A型标准试验片

磁性粒子缺陷检测

JIS-A标准标本

辅助设备对于检查的安全和效率至关重要。

型号：STP-1

概述

标准样品的目的是客观评估磁性粒子检测的灵敏度和准确性，

此外，设备性能、磁性粒子和测试溶液，这些因素影响缺陷检测的灵敏度和准确性，

它用于检查影响缺陷检测表面的磁场强度和方向，以及测试作是否合适。

A型标准样品确保在待检测缺陷方向形成磁性粒子图案。

磁化方法、磁化电流值、磁性颗粒的应用方法、测试溶液中磁性颗粒的浓度等。

它通过检查磁性粒子图案来保持缺陷检测的准确性。

样品由纯铁片一侧的凹槽构成，类型是凹槽的深度，

根据棋盘的材料和厚度，它分为几种类型。

特色

使用时，确保有槽面与缺陷检测面紧密接触。

用合适的胶带固定。此时，要粘贴的测试表面为

表面应使其能够与整个表面附着。

A型标准样品由日本无损检测协会确定。

如果在采集初期形状、尺寸或材料发生变化，请勿使用。