日本进口yamada山田卤素灯管高亮度光学仪器
YAMADA山田日本进口高亮度卤素光照灯管‌是专为半导体、液晶面板等精密制造领域设计的宏观检测照明设备，凭借其‌超高照度、冷镜散热、高显色性‌等核心技术，成为产线缺陷识别的关键工具。

日本进口yamada山田卤素灯管高亮度光学仪器

YAMADA山田日本进口高亮度卤素光照灯管‌是专为半导体、液晶面板等精密制造领域设计的宏观检测照明设备，凭借其‌超高照度、冷镜散热、高显色性‌等核心技术，成为产线缺陷识别的关键工具。

核心性能亮点：

‌照度突破极限‌：

样品表面照度可达 ‌400,000 lx 以上‌，远超普通LED光源（通常<100,000 lx），可清晰识别0.2μm级微小划痕、异物、CMP残留等微观缺陷。

‌真实色彩还原‌：

采用高色温（约3400K）卤素灯，显色指数接近Ra≈100，光线稳定锐利，避免LED蓝光偏色导致的误判，确保检测结果真实可靠。

‌冷镜热管理技术‌：

特殊镀膜“冷镜"可反射可见光并透射红外线，将热量影响降至传统铝镜的 ‌1/3‌，敏感材料温升≤2℃，有效防止热变形或损伤，特别适用于OLED、柔性屏等热敏感产线。

‌两级调光设计‌：

一键切换高/低照度模式，适配初检与复检不同场景，提升操作效率与观察舒适度。

‌精准光斑控制‌：

‌YP-150I‌：照射直径φ30mm，工作距离140mm

‌YP-250I‌：照射直径φ60mm，工作距离220mm

光斑均匀锐利，可穿透ITO镀层、偏光片等高反射干扰层，提升检测准确性。

‌工业级适配能力‌：

YP-250I支持螺旋桨风扇型与管道风扇型两种散热结构，满足不同洁净车间环境需求；搭配HPS-250控制器可达IP65防护等级，适应严苛工业现场。

应用场景覆盖：

半导体晶圆表面缺陷检测（异物、划痕、抛光不均）

液晶基板、Micro LED焊点宏观检查

玻璃、硅片、金属抛光件的微损伤识别

汽车零部件、精密模具的质量管控

日本进口yamada山田卤素灯管高亮度光学仪器

YAMADA山田光学YP-150I高亮度卤素光照灯管‌是日本进口的精密检测光源设备，专为半导体、液晶基板等高精度制造领域设计，适用于对光照强度、热控制和色彩还原要求较高的宏观缺陷检测场景。

核心性能与技术亮点

‌超高照度，识别微米级缺陷‌

YP-150I可在样品表面实现 ‌≥400,000 lx‌ 的照度，远超普通LED光源（通常<100,000 lx），能清晰呈现0.2μm级划痕、异物、抛光不均等细微瑕疵，甚至可替代部分精密探测仪进行初筛。

‌高显色性与稳定光源输出‌

采用 ‌3400K色温‌ 的卤素灯作为光源，显色指数接近 ‌Ra>95‌，光线接近日光，色彩还原真实，避免LED蓝光偏色导致的误判，确保检测结果客观可靠。

‌冷镜热管理技术，保护敏感材料‌

配备特殊镀膜“冷镜"，可反射可见光并透射红外线，将热辐射影响降至传统铝镜的 ‌1/3‌，有效防止硅片、玻璃、OLED等热敏感材料在检测过程中发生形变或损伤。实测温升≤2℃，保障检测稳定性。

‌两级调光设计，适配多阶段检测流程‌

支持一键切换高/低照度模式，满足初检快速扫描与复检精细观察的不同需求，提升操作效率与视觉舒适度。

‌精准照明范围，适配6英寸晶圆检测‌

‌照射直径：φ30mm‌

‌工作距离：140mm‌

光斑边界锐利、照度均匀，特别适用于 ‌6英寸半导体晶圆‌ 的整片宏观检查，并可穿透ITO镀层、偏光片等高反射干扰层，提升检测准确性。

‌紧凑结构与工业适配性‌

外形尺寸：约100×245×116 mm

重量：约1.7 kg

冷却方式：强制风扇冷却

输入电压：AC100V / 50-60Hz

功耗：约200W

灯泡型号：JCR15V150W（USHIO牛尾）

灯泡寿命：35–50小时（因高功率运行，属正常范围）

典型应用场景

半导体晶圆（6英寸）表面缺陷检测（异物、划痕、抛光不均）

液晶基板、ITO导电膜的宏观检查

玻璃、硅片、陶瓷等脆性材料的微损伤识别

精密光学元件、金属抛光件的质量管控

高亮度卤素光源设备

高亮度卤素光源设备是一种用于宏观观测的照明设备，用于检测各种缺陷，如异物、划痕、抛光不均匀、雾霾和最终表面的滑动，这些在半导体晶圆和液晶基板的加工过程中需要最多的人工。

概述

1. 样品表面可被照亮超过400,000Lx。

2. 光源为卤素灯，色温较高，光线不那么不均匀

，光线非常稳定且锐利。

3. 使用冷镜可将热效应降至传统铝制镜面的三分

之一。

4. 两级切换机制允许你一键切换

高光和低光观测。

YP-150I：照度范围φ30

YP-250I：照度范围φ60

（YP-250I可选择螺旋桨风扇型和风管风扇型。 ）