日本进口HORIBA堀场纳米拉曼光谱仪‌是HORIBA Scientific基于其在拉曼技术领域50余年的深厚积累，专为纳米尺度材料科学研究打造的分析仪器。该设备通过将‌原子力显微镜（AFM）与共焦拉曼光谱技术深度融合‌，实现了物理形貌与化学信息的‌同步、共定位、纳米级分辨率‌表征，是当前半导体、二维材料、纳米光电子器件等前沿领域核心工具。

日本进口HORIBA堀场纳米拉曼光谱仪‌是HORIBA Scientific基于其在拉曼技术领域50余年的深厚积累，专为纳米尺度材料科学研究打造的分析仪器。该设备通过将‌原子力显微镜（AFM）与共焦拉曼光谱技术深度融合‌，实现了物理形貌与化学信息的‌同步、共定位、纳米级分辨率‌表征，是当前半导体、二维材料、纳米光电子器件等前沿领域的核心工具。

其代表性型号如‌LabRAM Soleil Nano‌与‌XploRA Nano‌，具备以下关键特性：

‌纳米级空间分辨率‌：借助‌针尖增强拉曼散射（TERS）技术‌，突破光学衍射极限，空间分辨率可提升至‌<10 nm‌，实现单分子、晶界、缺陷等纳米结构的化学指纹识别 。

‌多模态一体化平台‌：在同一系统中集成‌拉曼、光致发光（PL）、TERS、TEPL（针尖增强光致发光）及多种AFM模式‌（如形貌、导电性、表面电势），提供全面的物理-化学-电学关联分析能力 。

‌高光谱性能‌：配备高通量光谱仪，波长覆盖范围达‌300–1600 nm‌（LabRAM Soleil Nano）或‌200–2200 nm‌（LabRAM Odyssey Nano），光谱分辨率优于‌30 cm⁻¹‌，确保精细光谱特征的精准捕捉 。

‌人性化与高稳定性设计‌：采用全反射式光路、压电调节物镜、自动对准系统，确保激光与AFM探针的精确耦合，提升测量重复性与操作便捷性 。

‌广泛科研应用‌：特别适用于‌二维材料层数与堆叠角分析、半导体器件缺陷定位、单壁碳纳米管手性识别、生物大分子构象研究‌等高挑战性课题，已在国内外实验室广泛应用 。

该仪器为日本进口，代表了HORIBA在科学仪器领域的工程实力，是推动纳米科技从基础研究走向产业应用的关键支撑。

日本进口HORIBA堀场纳米拉曼光谱仪‌

基于OmegaScope/SmartSPM扫描探针显微镜和LabRAM Soleil拉曼显微镜，本系统实现高度集成化。LabRAM Soleil Nano提供了直接AFM-拉曼和光致发光同区域测量能力。AFM成像模式（形貌、电学、力学等）和拉曼采集可以在样品表面的同一位置依次或同时进行。通过针尖增强拉曼光谱和光致发光（TERS/TEPL）也可以实现光学纳米分辨率。LabRAM Soleil Nano与环境保护罩联用，用于可控气氛和低温下的AFM和拉曼测量。

概述：

·多样品分析平台

宏观、微观和纳米尺度的测量可以在同一个平台上进行

·多技术/多环境

结合TERS/TEPL化学成像的多模式SPM技术包括AFM、导电和电学模式(CAFM、KPFM)、STM、液池和电化学环境。一个工作站和强大的软件即可对两台仪器进行控制，SPM和光谱仪可以同时或独立操作。

可与AFM环境保护罩兼容，用于环境控制、湿度控制和低温样品测试。

·坚固性/稳定性

高共振频率AFM扫描器，远离噪音干扰!高性能表现，无需主动隔振系统。

·简单易用

全自动操作，在几分钟内即可开始测量，而不是几小时

·高收集效率

高NA物镜保证顶部和侧向拉曼光谱检测都可以获得高分辨和高通量同区域测量和针尖增强光谱测量(TERS和TEPL)

·高通量多模UV-VIS-NIR消色差平台

专为拉曼、光致发光、超低波数拉曼、上转换发光、电致发光等而设计。内置多达4个激光器和6个不同的滤波片;四光栅转台。

·高空间分辨率

针尖增强光谱(TERS/TEPL)可达纳米级光谱分辨率(优于10 nm)。

·高通量超低波数优于30cm-1

·超快拉曼成像

SmartSampling™-超出正常100倍以上的拉曼光谱成像，数分钟即可完成。