日本进口HORIBA堀场纳米拉曼光谱仪‌是HORIBA Scientific面向科研领域推出的高精度材料分析系统，专为实现‌纳米尺度下化学成分与物理性质的同步表征‌而设计。该仪器融合了‌共焦拉曼光谱‌与‌原子力显微镜（AFM）技术‌，通过‌针尖增强拉曼散射（TERS）‌ 突破光学衍射极限，实现‌<10 nm空间分辨率‌的分子级化学成像，广泛应用于二维材料、半导体器件、纳米催化和生物单分子研究等

日本进口HORIBA堀场纳米拉曼光谱仪‌是HORIBA Scientific面向科研领域推出的高精度材料分析系统，专为实现‌纳米尺度下化学成分与物理性质的同步表征‌而设计。该仪器融合了‌共焦拉曼光谱‌与‌原子力显微镜（AFM）技术‌，通过‌针尖增强拉曼散射（TERS）‌ 突破光学衍射极限，实现‌<10 nm空间分辨率‌的分子级化学成像，广泛应用于二维材料、半导体器件、纳米催化和生物单分子研究等领域 。

其核心型号如‌LabRAM Soleil Nano‌和‌XploRA Nano‌，具备以下关键能力：

‌多模态联用分析‌：集成拉曼、光致发光（PL）、TERS、TEPL及多种AFM模式（形貌、导电性、表面电势等），实现‌物理结构与化学信息的共定位采集‌，提供全面的材料指纹数据 。

‌宽谱覆盖与高分辨率‌：光谱范围可达‌200–2200 nm‌，配备高通量光谱仪与高灵敏度探测器，光谱分辨率优于‌0.2 cm⁻¹‌，可精准识别微弱拉曼信号与晶格振动模式 。

‌全自动智能操作‌：采用全反射光路设计、压电调节物镜与自动对焦系统，确保激光与AFM探针的稳定耦合，提升测量重复性与实验效率 。

‌科研级应用支持‌：特别适用于‌单壁碳纳米管手性分析、二维材料堆叠角识别、半导体晶界缺陷检测、纳米催化剂活性位点定位‌等前沿课题，助力从基础研究到产业转化的全链条创新 。

该设备由日本进口，依托HORIBA在拉曼技术领域超过50年的研发积淀 ，代表了当前纳米光谱分析的水平，已被多所高校与科研机构采用。

日本进口HORIBA堀场纳米拉曼光谱仪‌

这是一套基于业界扫描探针显微镜SmartSPM和 XploRA plus的耦合系统。

XploRA Nano系统，紧凑、全自动、易于使用，这是一套已经得到证实了的经济适用的高度集中原子力显微镜-拉曼的全功能系统，它帮助大家实现TERS成像。

·多样品分析平台

宏观、微观和纳米尺度的测量可以在同一个平台上进行

·简单易用

全自动操作，在几分钟内即可开始测量，而不是几小时!

·真正的共聚焦

高空间分辨率，自动样品台，全显微镜可视化，

·高收集效率

顶部和侧向拉曼光谱检测都可以获得高分辨和高通量测量同区域和针尖增强光谱测量(TERS和TEPL)

·高光谱分辨率

高光谱分辨能力，多光栅自动切换，宽光谱范围的拉曼和光致发光分析。

·高空间分辨率

针尖增强的纳米级光谱分辨率(优于10nm)

丰富的光学光谱(拉曼和光致发光)

·多技术/多环境

结合TERS/TEPL化学成像的多模式SPM技术包括AFM、导电和电学模式(CAFM、KPFM)、STM、液池和电化学环境。一个工作站和强大的软件即可对两台仪器进行控制，SPM和光谱仪可以同时或独立操作。

·坚固性/稳定性

高共振频率AFM扫描器，远离噪音干扰!高性能表现，无需主动隔振系统。