HORIBA堀场全自动模块化荧光寿命光谱仪
全自动模块化荧光寿命光谱仪DeltaFlex是一款基于时间相关单光子计数（TCSPC）技术的高性能科研仪器，由HORIBA公司研发，具备超快时间分辨能力与高度灵活的模块化设计，适用于物理、化学、材料和生命科学等多领域研究‌。

HORIBA堀场全自动模块化荧光寿命光谱仪

全自动模块化荧光寿命光谱仪DeltaFlex是一款基于时间相关单光子计数（TCSPC）技术的高性能科研仪器，由HORIBA公司研发，具备超快时间分辨能力与高度灵活的模块化设计，适用于物理、化学、材料和生命科学等多领域研究‌。

该系统核心为‌DeltaHub电子计时设备‌，可实现从‌25皮秒（ps）到1秒（s）‌ 跨越11个数量级的荧光寿命测试，无需更换线缆或板卡 。其采用新型脉冲半导体光源（如DeltaDiode和SpectraLED），即插即用、终身免维护，支持紫外至近红外波段（230–1700 nm）激发 。

系统配备F-Link总线技术，支持模块自动识别与软件一键控制，极大提升实验效率。可选配变温样品仓（77K–500K）、偏振附件、近红外探测器等，满足FRET、磷光、各向异性及动力学监测等多种复杂应用需求 。此外，DeltaFlex还提供免费开放的专业拟合软件，支持多指数衰减分析、批量处理10,000条衰减曲线等功能，助力高通量数据解析 。

广泛应用于太阳能电池效率评估、荧光探针开发、量子点研究及生物大分子动态行为分析等领域，已被山东大学、华东理工大学、大连理工大学等多家高校和科研机构采用 。

HORIBA堀场全自动模块化荧光寿命光谱仪

兼具高性能和灵活性的荧光寿命测试系统，可利用时间相关单光子技术（TCSPC）测试方法，快速有效地采集荧光寿命数据

DeltaFlex 全自动模块化荧光寿命光谱仪是我们的Delta系列新一代时间相关单光子计数荧光寿命测试仪器之一，其可提供较大的灵活性。

该系统可实现跨越11个数量级的发光寿命测试，且无需更换线缆或板卡。其核心是DeltaHub电子计时设备，它提供几乎无损的计数，能够实现从25ps到1s时间范围的寿命测试。DeltaFlex由HORIBA高脉冲频率光源、高灵敏度探测器及超低死时间的电子计时单元组成，能够快速、高效地采集荧光寿命数据。

全新的F-Link总线设计使得模块化简单易行，系统能够自动检测到添加到仪器中的任意组件，并且可以实现控制软件自动控制。

随着生物探针和光伏等应用领域逐渐扩展到近红外区域，因此实现近红外区域的时间分辨测试非常重要。DeltaFlex可与多种近红外探测器结合，为近红外时间分辨测试提供解决方案。

DeltaFlex系统由可替换的DeltaDiode激发光源、DeltaHub电子计时单元和PPD皮秒检测器组成。可通过增加激发和发射单色仪实现波长选择，从而可实现时间分辨荧光光谱（TRES）等的全光谱寿命采集。TDM-800 单色仪可提供低时间色散。系统配备带有数字温度传感器和磁力搅拌器的样品架。

我们还提供DeltaDiode短寿命测试光源，SpectraLED长寿命测试脉冲光源、单色仪和珀耳帖温度控制等众多附件。DeltaFlex可以通过F-Link光谱仪总线轻松升级以及自动控制等。

概要:

·高脉冲频率激光光源和PPD检测器可实现低至25ps的荧光寿命测量

·每秒高达1000次的时间相关单光子计数(TCSPC)测量技术，非常适合动力学研究

·搭配单色仪实现波长选择

·覆盖紫外到近红外波长范围的DeltaDiodes脉冲激发光源可供选择。 

·SpectraLED光源可用于获取更长的发光寿命(微秒到秒)，且提供紫外到近红外波长范围光源选择

·可升级到基于单色仪的NIR系统(DeltaFlex-NIR-H或DeltaFlex-NIR-R)

·通过F-Link模块轻松添加附件

·综合软件包

·测量模式

·荧光寿命25ps到1s。

           -动态时间相关单光子计数(TCSPC)方法，可连续测量1毫秒内1~10000次衰减，直到1 分钟内1次衰减。

           -各向异性测试，解卷积以分辨更短的旋转相关时间。

           -时间分辨发射光谱 (TRES)，可一次采集多达100个波长的寿命袁减曲线

           -稳态光谱测量。